|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
The Most Reliable and Precise Model to Determine Schottky Barrier Height and Photoelectron Yield Spectroscopy |
| Auteur: |
Changshi, Liu |
| Verschenen in: |
Optical and quantum electronics |
| Paginering: | Jaargang 51 () nr. 11 pagina's 1-8 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |